高低溫循環(huán)測(cè)試箱  恒溫恒濕交變實(shí)驗(yàn)箱設(shè)備適用于儀器儀表材料、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要適用于工業(yè)產(chǎn)品恒定、濕熱交變的可靠性試驗(yàn)，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

工作室尺寸(mm):50*60*50

溫度范圍:

A型-20℃～+150℃

B型-40℃～+150℃

C型-70℃～+150℃

波動(dòng)度/均勻度:≤±0.5℃/≤2℃

溫度偏差：±2℃

適度范圍：20～98％R.H

升溫速率:1.0-3.0℃/min

降溫速率:0.7～1.0℃/min

外箱材料:優(yōu)質(zhì)A3鋼板靜電噴塑/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理

內(nèi)箱材料:進(jìn)口優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板

保溫材料:超細(xì)玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡

箱門(mén)密封:雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條

控制儀:

精度范圍：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃

溫度傳感器:鉑金電阻PT100Ω/MV

循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音型電機(jī)，單循環(huán)、加長(zhǎng)軸、不銹鋼多葉式離心風(fēng)葉

加熱方式:鎳鉻合金電加熱式加熱器

制冷方式:單元制冷方式/雙元(復(fù)疊)制冷方式（風(fēng)冷）

冷卻器:法國(guó)“泰康"多級(jí)膜片式蒸發(fā)器

壓縮機(jī):法國(guó)“泰康"全封閉制冷壓縮機(jī)/法國(guó)“泰康"全封閉制冷壓縮機(jī)組

定時(shí)功能:0.1～99.99（S、M、H）

安保裝置:電源超載、漏電、接地、超溫保護(hù)（帶聲訊提示）、快速保險(xiǎn)絲、壓縮機(jī)過(guò)壓保護(hù)

標(biāo)準(zhǔn)配置:耐高、低溫鋼化玻璃內(nèi)熱式中空玻璃觀察窗：220×180(mm)一個(gè),照明燈一只

測(cè)試引線孔￠50mm一個(gè)，樣品架2付，帶腳輪

電源電壓:

A型：380V/5KW

B型：380V/7KW

C型：380V/8KW

使用環(huán)境溫度:15℃～＋30℃≤85％R.H

控制儀:韓國(guó)進(jìn)口“TIME"880智能液晶溫濕度控制器

高低溫循環(huán)測(cè)試箱  恒溫恒濕交變實(shí)驗(yàn)箱設(shè)備結(jié)構(gòu)

設(shè)備主要由箱體、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。

試驗(yàn)箱體設(shè)計(jì)*，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用無(wú)反作用把手，操作容易。

箱門(mén)密封采用精制硅橡膠，從而在高、低溫下不存在老化及硬化現(xiàn)象。

內(nèi)膽為進(jìn)口SUS304不銹鋼板，外殼為A3板噴塑處理，更顯光潔、美觀。

保溫系統(tǒng)采用超細(xì)玻璃纖維或硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡填充保溫區(qū)，以保證箱體內(nèi)部溫度。

獨(dú)立的加溫與制冷系統(tǒng)使設(shè)備更有效的升溫、降溫，制冷系統(tǒng)為全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。

采用多翼式強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。

空氣循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開(kāi)門(mén)瞬間溫度回溫時(shí)間快。

*韓國(guó)"TEMI880"可編程溫濕度控制儀(5.7英寸16位真彩觸摸屏)；中文式菜單操作方式，內(nèi)存程序組120組，每程序組含程序段1200段，全部循環(huán)，多999回。

設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；

GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則；

GB/T2324.2-1989.GB/T2423.1-1989.GB/T2423.4-1993等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。